MarSurf VD 系列 ： 粗糙度和轮廓系统之间方便更换，操作员可根据测量任务更换测量表面粗糙度的 BFW 粗糙度测头系统，或测量轮廓的 C 11 轮廓测头系统（可热插拔）。新系统的优势是结合了高度灵活的 C 11 轮廓测头系统和高精密 BFW 测头系统，特别适合精细表面。 新测量站概念综合了速度、可靠性和灵活性。 测量站使用用户友好的 MarWin 软件操作（MarWin Easy Roughness; Contour 或 MarWin Professional Roughness; Contour）。 技术： 快速测轴 X 方向定位速度高达 200 mm/s 两个参考测头系统帮助您完成测量任务 轮廓测头系统 C 11 通过集成芯片识别测杆 标准测量范围达 70 mm~100 mm， 磁性测杆支架，更换测杆无需工具。 触摸测头耐用且灵活 可选：可将粗糙度值测定扩展到轮廓 粗糙度测头系统 BFW 测杆更换简单，通过磁性测杆支架保护测杆 借助测杆底板，无需工具或适配器即可将标准测量换成横向测量

MarSurf UD 130<br /> MarSurf UD 130 通过两个驱动单元填补了高端解决方案 MarSurf LD 130 / LD 260 和新标准组合测量站 MarSurf VD 140 / 280 之间的空白。MarSurf UD 130 的技术规格是以高质量的干涉测头系统为基础，测量和定位速度快，可以减少每个工件的测量时间。

MarSurf LD 130 和 LD 260 测量站

将轮廓测量提升至新的层面 全新的 MarSurf CD 系列让制造公司进入新的层面，能够在测量室或邻近生产环境中可靠地保障和提升工件的制造质量。 新测量站概念综合了速度、可靠性和灵活性。 创新的技术： 快速测轴 X 方向定位速度高达 200 mm/s 是前代 MarSurf PCV 和 MarSurf CD 120 速度的 25 倍以上 此系列所有测量站都有全功能 CNC Z 轴 Z 轴速度约是 Mahr 旧型号 Z 轴的两倍 高度灵活的智能测头系统 通过集成芯片识别测杆 标准测量范围高达 70 mm；490 mm 测杆时可达 100 mm 磁性测杆底板，更换测杆无需工具 测头系统耐用且灵活